|
|
|
|
简要说明
S230是业界标准的PDP驱动IC检测系统，不仅为数据驱动，而且对于需要高电压的PDP扫描驱动,也能够进行正确的检测。和Wafer Probe Test, TCP Test, QFP Test等等的各种探针器，分选仪都有许多连接的实际经验。
|
| 主要技术指标 |
| Test Rate: |
20/40/60 MHz |
| Perpin TG: |
64 I/O,512 HV Pins |
|
满足 RSDS I/F |
| 同 测: |
4DUTs/ST |
|
满足高速比较(器) |
|
能够实现高精度Tr/Tf检测 |
| 选 件: |
HS-CLK,OLED
|
| Target Applications |
| PDP Driver ICs (Data, Scan) |
|
 
|
|
