HOME > 自动测试设备 > 线性IC测试系统
线性IC测试系统
WL25 线性IC测试系统 : 芝测公司
WL25 线性IC测试系统 : 芝测公司WL25使用多DGS (Device Ground Sense),完全支持大功能器件的同时测试。WL25提供丰富的V/I源种类。为缩短测试系统改变的设定时间和减少系统噪音最新开发的高速BUS, 提供高精度的测试。
规 格
Perpin DC: 512pins
V/I 源: +/-50V, +/-250mA
+/-128V, +/-250mA (+/-40V,+/-2A)
大功能V/I源: +/-60V, +/-10A
+/-30V, +/-30A(floating power supply)
高圧V/I源: +800V/-500V, +/-200mA
+2000V, +20mA
功能: 5MHz Test Rate,Correspond to 64 Digital
可安装DSP模式
同时测试数: 16DUTs/ST

服务器件
Reg./IPD/Analog & 电源 (具有广范围的应用性,从小信号到 power-LSI 和 power-MOS)