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模拟集成电路测试系统
WL25v 模拟集成电路测试系统 : 芝测公司
测试对象 车用Device、电源IC、电源管理IC、各种驱动IC 等
测试市场顶尖品牌的WL25系统功能经历模范转变,诞生了WL25V测试系统。现在您可依据WL25V模拟PIN切片式的架构风格,方便至极地配置您所需的各种测试系统。利用WL25V模拟PIN电压高电流大的特点,可覆盖更广泛的IC的测试。同时精度更高,速度更快,同测功能更强,为测试市场贡献性价比更为优异的测试平台。
WL25V 模拟集成电路测试系统
规格
同测功能: 最大1024Sides
模拟CH : 256ch (64V/1.5A)
数字CH : 256ch (5M to 50M)
时间测试功能
任意波发生功能
数字化仪功能


SCV8 / SCV66 模拟集成电路测试系统 : Shibasoku
测试对象 音频、运放、DC-DC、电源管理IC 等
SCV系列是一框紧凑型高性价比的模拟集成电路测试系统,可为您提供各处所需的最佳配置。
SCV8 模拟集成电路测试系统
SCV8
规格
同测功能: 32Sides
模拟CH : 64ch (64V/320mA)
数字CH : 32ch (5M to 50M)
时间测试功能
音频测试功能
SCV66 模拟集成电路测试系统
SCV66
规格
同测功能: 16Sides
模拟CH : 32ch (64V/320mA)
时间测试功能