半导体测试系统

混合信号LSI测试系统

【测试对象元件】车载用元件、电源IC、电源管理IC、各种驱动IC等

WL27 多pin化、新登场的逻辑、功率混合型LSI测试系统。 最适合车载・马达驱动等A/D混合型功率器件的同时测试。是追求高测试产量、高性价比的最佳混合信号LSI测试系统。

【WL27/WL27H】

规格
  Detection／检出 
Test Rate: 20/40 MHz
Digital Pins: 256 pins、256 PPS (WL27H)
128 pins、128 PPS (WL27)
DSP Module AFG: 16 bits/10 Msps
DSP Module ADGT: 16 bits/10 Msps
DSP Module VFG: 14 bits/240 Msps
DSP Module VDGT: 14 bits/80 Msps
High Power V/I源: 可搭载±60 V/±10 A

WL27Prime Mixed Signal LSI Test System

100MHz 1024 I/O　可对应从LSI到内藏有MCU的大功率器件测试的新产品

【WL27Prime】

特点
  • 可配置1024的数字pin
  • 最大128个同时测试
  • 配置有Multi Pattern Generator，SCAN，ALPG功能
  • 装配有PerPin PMU，PerPin TMU
  • 可装配WL25的各种硬件模块
  • 因配置有大电流，高压硬件模块，可对应大功率器件测试
规格
  • 100MHz 1024 I/O数字pin
  • 64V/1.5A
  • 16V/100A
  • 2000V/100mA
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