半导体测试系统

多站测试系统

晶圆同测系统

WL15VW+Power device BOX 功率半导体晶圆同测系统

【测试对象元件】IGBT, MOSFET, SBD, FRD, IPM, IPD, Chip

　　　　　
【WL15VW+Power device BOX】

　　　
 
2000V/30A ４个同测规格例
  • ＋2000V/±20mA
  • ±128V/±5A
  • ±60V/±30A
  • ±64V/±160mA
  • 最大32个同测
　

高电压・大电流功率器件测试系统

WL25MV multi-stage 多站高电压/大电流功率器件测试系统

【测试对象元件】IGBT / MOSFET 模块、晶片

　　　　　
【WL25MV】

　　　
 
最大可带8个测试站（AC测试站/DC测试站）
  • 统一管理・处理测试数据(Multi Product Window)
  • 提供稳定的生产环境
  • 搭载有过流保护功能、避免在动态测试时损坏测试器件
　

小型同测系统

【测试对象元件】车载用传感器、车载用调压器IC等

1台测试机最大可带4个测试站进行非同期测试。测试机本体设计得非常小型紧凑、和搬送装置就近连接。测试机内部预设有应用板、减少了本体和应用盒之间的连线。

　　　　　
【SCV66MX】

　　　
规格 
  • 并列测试
  • 模拟 pin: 64V/1.5A： 32CH
  • 数字 pin: 50MHz    ： 32CH
  • 搭载模块 modules
    1. 高 压　V/I　　2000V/20ｍA
    2. 大电流 V/I 16V/100A
    3. 时间板
    　
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